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SDH/SONET/OTN関連測定器
 

VePAL TX150E+ ハンドヘルド型SDH/PDHテストセット

VeEX(ビーエックス)TX150E+
型式 TX150E+
メーカー名 VeEX 製品分類 SDH/SONET関連測定器
概要 SDHネットワークテストに最適
TX150E+は、高度な伝送テストと解析を1台のハンドヘルドテスタで実現。最大2.5GまでのSDH/PDHネットワークテストソリューションを提供します。
用途 BERT・SDH解析
プラットフォームの特徴
■小形・軽量・簡単操作・カラー表示・バッテリ対応
■日本語表示で、見やすい高解像度のカラータッチ画面
■厳しい要求とテスト条件に対応できる強力で柔軟な機能が満載 された堅牢なハンドヘルド型の筐体
■従来および次世代のイーサネットサービスを伝送するSDHネットワークを導入および保守するフィールドエンジニアや技術者に最適な設計
■バックオフィスアプリケーション、作業状況の管理、およびトリプルプレイサービス確認を行うためのイーサネットポートと接続
■ユーザー定義によるテストプロファイルとしきい値により、高速で効率的、かつ一貫性のあるサービスの強化
■USBメモリスティックのサポートとFTPアップロード機能により、テスト結果の保存やファイル転送が可能
■標準添付のReVealTM PCソフトウェアの使用により、本機ソフトウェアの保守、テスト設定の管理、プロセス測定結果、
  および顧客テストレポートの生成が可能
■交換可能なLi-Ionバッテリパックの使用により長時間にわたる フィールドテストを実現。スタンバイモードにより、
  バッテリの持続時間の延長が可能
■高度なIPテストのサポート。イーサネットまたは使用可能な場合はUSBポートを通じたPing、trace route、ARP Wiz、IPTV、
  Webブラウザ、およびFTPアップロード/ダウンロードが可能
■標準イーサネットインタフェースを介しリモートコントロール オプションを使用した、リモートによるテストおよび監視の実行
対応機能
■E1、E2、E3ビットレートによるPDHテスト。DS1、DS3、およびE4(オプション)
■E1用の平衡(120)および不平衡(75)インタフェース
■双方向監視のためのデュアルE1、DS1、およびDS3レシーバ
■全レートE1およびフラクショナルN/M 64kbit/sまたは56kbit/s テスト
■Saビット生成によるPDH解析
■E1、E3、DS1、DS3ビットレートでのパルスマスク解析
■STM-0、STM-1、STM-4、およびSTM-16ビットレートでのSDHテスト
■Multi Source Agreement(MSA)準拠による業界標準SFPを使用した柔軟な波長/ビットレートのオプション
■光パワー、レベル、および周波数の測定
■ネットワークタイプ、ビットレート、ラインコーディング、フレーミング、マッピング、およびテストパターンの自動設定
■ITU-T G.707推奨事項に従ったペイロードマッピング
■コンカチネーションペイロード
■ITU標準によるビットエラーとパフォーマンスの解析
■エラーおよびアラームの生成と解析
■パストレースの生成と解析
■ポインタの生成と解析
■自動保護切替/サービス停止テスト
■エラーおよびアラームのヒストグラム表示とイベント解析
■すべてのインタフェースとペイロードマッピングのラウンドトリップ遅延
■クロック修復回路に負荷をかけるための伝送周波数オフセット
■セクションおよびパスのオーバーヘッド監視とバイトデコード
■タンデム接続監視
用途
本製品によりSDHおよびPDHネットワークの設置、試運転、監視、メンテナンスは、直感的に理解できる機能と強力なテスト機能で、大幅な作業の簡素化が実現されています。SDH信号は多重化プロセス中に様々な障害によって損なわれることがあります。そのため、問題の原因となるネットワーク要素または信号経路を切り離すために、異常や障害の種類を明確にすることが 重要です。直観的に操作できる非介入テストモードやテスト監視モードを使用して、伝送の問題を迅速に突き止め対処し、包括的な解析を行うことができます。経験の少ない人でも簡単に、自動構成機能とトリビュタリスキャンテストモードを使用でき、経験豊富なユーザーはオーバーヘッド監視やバイトコントロール、ポインタ試験シーケンス、パストレース生成、タンデム接続監視など、多数の高度な機能の利点を実感できます。
アウトオブサービス時のテスト
アプリケーションには以下が含まれます。
■エンドツーエンドBERT
■トリビュタリのマッピング/デマッピング
■パス/セクションのトレース生成
■運用開始(M.2100)
■パルスマスク解析(E1/E3/DS3)
■MUXテスト
■ラウンドトリップ遅延
インサービス時の監視
アプリケーションには以下が含まれます。
■光パワーおよび周波数
■トリビュタリスキャン
■G.826、G.828、G.829、M.2101に準拠した
■パフォーマンス解析
■ポインタの解析と生成
■APS測定/サービス停止
■タンデム接続監視
■オーバーヘッドバイトの制御とデコード
■オーバーヘッドBERT